產(chǎn)品測(cè)試的影響

    在測(cè)試中，芯片、PCB或半導(dǎo)體器件在升高的溫度、電壓和功率循環(huán)條件下進(jìn)行測(cè)試。該測(cè)試通過強(qiáng)制其在監(jiān)控電路下，經(jīng)歷各種苛刻的測(cè)試條件來加速設(shè)備中潛在缺陷的出現(xiàn)。半導(dǎo)體器件的負(fù)載能力是通過施加高電壓和溫度等應(yīng)力來評(píng)估的。對(duì)生產(chǎn)批次的每個(gè)組件進(jìn)行測(cè)試，以確保符合制造標(biāo)準(zhǔn)并且組件可靠。

    好處

    測(cè)試是清除半導(dǎo)體器件初始高潛在故障（也稱為早夭率）的最佳篩選方法。能夠通過測(cè)試的設(shè)備是沒有潛在缺陷的高質(zhì)量部件，并且可以被信任并入最終應(yīng)用到產(chǎn)品組裝中。通常，在半導(dǎo)體元件的測(cè)試期間會(huì)檢測(cè)到介電故障、金屬化故障、電遷移和導(dǎo)體故障等。

    半導(dǎo)體測(cè)試的類型

    半導(dǎo)體測(cè)試過程通常在125℃的溫度下進(jìn)行，在其整個(gè)使用壽命期間可以提供給器件的偏置電壓。老化板配合IC半導(dǎo)體測(cè)試座用于將半導(dǎo)體元件放入老化爐中。電壓施加可以是靜態(tài)的或動(dòng)態(tài)的。半導(dǎo)體測(cè)試的不同類型是靜態(tài)老化、動(dòng)態(tài)老化。下表比較了靜態(tài)老化和動(dòng)態(tài)半導(dǎo)體測(cè)試。

靜態(tài)老化是半導(dǎo)體器件處于非工作模式下，半導(dǎo)體器件沒有輸入，其優(yōu)點(diǎn)包括成本低和相簡單的程序，成本相應(yīng)會(huì)更低，但是缺點(diǎn)是半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備上的所監(jiān)控的電路節(jié)點(diǎn)不到實(shí)際數(shù)量的一半。靜態(tài)老化一般來說也分多種情況，主要是溫度恒定輸入，供電以及監(jiān)控部分都是mV和mA級(jí)別的供電，這種屬于傳統(tǒng)的半導(dǎo)體測(cè)試。

    動(dòng)態(tài)老化半導(dǎo)體器件處于工作狀態(tài)下，向半導(dǎo)體器件提供輸入激勵(lì)信號(hào)，通過偵測(cè)相關(guān)的信號(hào)來判定芯片或者說半導(dǎo)體器件在老化狀態(tài)或者說極端環(huán)境下的工作狀態(tài)，優(yōu)點(diǎn)包括能夠?qū)?nèi)部電路施加更多壓力和檢測(cè)額外的故障，動(dòng)態(tài)老化更貼近半導(dǎo)體器件的實(shí)際應(yīng)用環(huán)境。

    半導(dǎo)體設(shè)備的測(cè)試是最常見的篩選測(cè)試，這是有充分理由的。測(cè)試從供應(yīng)鏈中去除了早期故障和潛在缺陷概率很高的不可靠組件。這是所有主要半導(dǎo)體制造行業(yè)都推薦的流程，因?yàn)樗欠治鲈缙诠收馅厔?shì)、提高可靠性和估計(jì)半導(dǎo)體器件中可用器件小時(shí)數(shù)的最佳質(zhì)量保證方法。那么上述就是有關(guān)半導(dǎo)體老化測(cè)試的重要性以及相關(guān)優(yōu)點(diǎn)有哪些的介紹，希望對(duì)大家有所幫助哦~