現(xiàn)在測(cè)試PCB阻抗的儀器主要有兩種：基于采樣示波器的時(shí)域反射計(jì)TDR和基于網(wǎng)絡(luò)分析儀的ENA-TDR。

一、基于采樣示波器的時(shí)域反射計(jì)TDR

TDR測(cè)試目前主要使用于PCB(印制電路板)信號(hào)線、以及器件阻抗的測(cè)試。影響TDR測(cè)試精度有很多的原因，主要有反射、校準(zhǔn)、讀數(shù)選擇等，反射會(huì)導(dǎo)致較短的PCB信號(hào)線測(cè)試值出現(xiàn)嚴(yán)重偏差，特別是在使用TIP(探針)去測(cè)試的情況下更為明顯，因?yàn)門(mén)IP和信號(hào)線接觸點(diǎn)會(huì)導(dǎo)致很大的阻抗不連續(xù)，導(dǎo)致反射發(fā)生，并導(dǎo)致附近三、四英寸左右范圍的PCB信號(hào)線的阻抗曲線起伏。

典型的TDR系統(tǒng)是由一臺(tái)高速階躍脈沖信號(hào)發(fā)生器與一個(gè)高速的取樣頭組成的。階躍脈沖的上升時(shí)間決定TDR設(shè)備分辨阻抗不連續(xù)性的能力；阻抗變化位置的準(zhǔn)確程度（即測(cè)試時(shí)間）則由高速取樣頭來(lái)決定。

二、基于網(wǎng)絡(luò)分析儀的ENA-TDR

網(wǎng)絡(luò)分析儀VNA 是測(cè)量被測(cè)件（DUT）頻率響應(yīng)的儀器，測(cè)量的時(shí)候給被測(cè)器件輸入一個(gè)正弦波激勵(lì)信號(hào)，然后通過(guò)計(jì)算輸入信號(hào)與傳輸信號(hào)或反射信號(hào)之間的矢量幅度比，得到測(cè)量結(jié)果；在測(cè)量的頻率范圍內(nèi)對(duì)輸入的信號(hào)進(jìn)行掃描就可以獲得被測(cè)器件的頻率響應(yīng)特性；在測(cè)量接收機(jī)中使用帶通濾波器可以把噪聲和不需要的信號(hào)從測(cè)量結(jié)果中去掉，提高測(cè)量精度。

業(yè)界采用了許多校準(zhǔn)方法來(lái)保證TDR測(cè)量的精度，主要有：
1：偏置校準(zhǔn)方法（適用于基于采樣示波器的TDR）
2：歸一化校準(zhǔn)方法（適用于基于采樣示波器的TDR）
3：電子校準(zhǔn)件SOLT校準(zhǔn)方法（適用于基于網(wǎng)絡(luò)分析儀的ENA-TDR）

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